金屬晶粒的尺寸(或晶粒度)對其在室溫及高溫下的機(jī)械性質(zhì)有決定性的影響，晶粒尺寸的細(xì)化也被作為鋼的熱處理中最重要的強(qiáng)化途徑之一。因此，在金屬性能分析中，晶粒尺寸的估算顯得十分重要。那么根據(jù)一張金相照片我們能從中得到哪些信息呢?

一、什么是晶粒度?

晶粒度表示晶粒大小的尺度。金屬的晶粒大小對金屬的許多性能有很大影響。晶粒度的影響，實(shí)質(zhì)是晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大，對性能的影響也越大。對于金屬的常溫力學(xué)性能來說，一般是晶粒越細(xì)小，則強(qiáng)度和硬度越高，同時塑性和韌性也越好。

二、測定平均晶粒度的基本方法

一般情況下測定平均晶粒度有三種基本方法：比較法、面積法、截點(diǎn)法。具體如下

1、比較法：比較法不需計算晶粒、截矩。與標(biāo)準(zhǔn)系列評級圖進(jìn)行比較，用比較法評估晶粒度時一般存在一定的偏差(±0.5 級)。評估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1 級。

2、面積法：面積法是計算已知面積內(nèi)晶粒個數(shù)，利用單位面積晶粒數(shù)來確定晶粒度級別數(shù)。該方法的精確度中所計算晶粒度的函數(shù)，通過合理計數(shù)可實(shí)現(xiàn)±0.25 級的精確度。面積法的測定結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性小于 ±0. 5 級。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計數(shù)。

3、截點(diǎn)法：截點(diǎn)數(shù)是計算已知長度的試驗線段(或網(wǎng)格)與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數(shù)，利用單位長度截點(diǎn)數(shù) 來確定晶粒度級別數(shù)。截點(diǎn)法的精確度是計算的截點(diǎn)數(shù)或截距的函數(shù)，通過有效的統(tǒng)計結(jié)果可達(dá)到 ± 0.25 級的精確度。截點(diǎn)法的測量結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性和再現(xiàn)性小于±0.5 級。對同一精度水平，截點(diǎn)法由于不需要精確標(biāo)計截點(diǎn)或截距數(shù)，因而較面積法測量快。